Растровый электронный микроскоп JEOL JIB-4501 – оснащен мощной ионной пушкой, и представляет собой многофункциональный растровый электронный микроскоп с двухлучевой системой. Прибор может быть использован как в режиме РЭМ, так и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления