Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N и L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм при коаксиальном ЭПИ-освещении, а также с применением метода проходящего освещения.