Дискуссионная насадка OLYMPUS ВХ43 BX53
Дискуссионная насадка исследовательского микроскопа OLYMPUS Evident ВХ43 BX53
Микроскоп Olympus STM7 Evident
Измерительные микроскопы Olympus Evident серии STM7 предназначены для контроля размеров инструмента, деталей машин, механизмов и микроэлектронных компонентов.
Измерения можно проводить по трем осям с высокой точностью и внесены в Государственный реестр средств измерений.
Стереомикроскоп BS-3080
BS-3080 — стереомикроскоп исследовательского уровня с масштабированием и бесконечной параллельной оптической системой Аббе-Галилея. Оснащен апохроматической оптикой, что обеспечивает наблюдение объектов с максимальным разрешением и четкостью.
Стереомикроскоп BS-3014
Стереомикроскопы серии BS-3014 позволяют получать качественные стереоизображение объектов с хорошей различимостью. Для этих микроскопов можно выбрать дополнительныйварианты опционального освещения и оснастки. Они широко используются на промышленных предприятиях, в производстве электроники, ювелирной промышленности, а также в научных и образовательных учреждениях.
Стереомикроскоп BS-3030
Тринокулярные стереомикроскопы представляют собой важные инструменты для детального наблюдения. Микроскопы с зумом серии BS-3030 обеспечивают высококачественное трехмерное изображение во всем диапазоне увеличения. Дополнительные окуляры и объективы расширяют диапазон увеличения и рабочее расстояние
Микроскоп Olympus DSX1000 Evident
Цифровой микроскоп сверхвысокого разрешения для универсального применения с кратностью увеличения до 7000х
Микроскоп Leica DM4 P
Серия исследовательских прямых микроскопов для задач материаловедения, геологии, минералогии, криминалистики, медицины, биологии, а также контроля качества в промышленности
Микроскоп Leica DM12000
Прямой ультрафиолетовый микроскоп Leica DM12000 для контроля качества полупроводниковых пластин в микроэлектронике.
Микроскоп Leica DM8000
Прямой ультрафиолетовый микроскоп Leica DM8000 для контроля качества полупроводниковых пластин в микроэлектронике.
Микроскоп Nikon ECLIPSE L200
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N и L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм при коаксиальном ЭПИ-освещении, а также с применением метода проходящего освещения.
Стереомикроскоп Leica M205
Стереомикроскоп высшего класса по диапазону увеличений до 480Х и с максимальным разрешением. Поддерживает максимальное количество методик освещения (отраженное, косое, проходящее, коаксиальное), а также применение поляризационного и флуоресцентного методов наблюдения.
Стереомикроскоп Leica S9D
Стереомикроскоп Leica S9D - высокоточный оптический прибор, дополненный отдельным третьим тубусным выходом для подключения цифровых камер. Имеет зум-трансфокатор повышенной кратности 9:1